薄膜厚度測(cè)量?jī)x的應(yīng)用和技術(shù)原理
更新時(shí)間：2013-11-12 點(diǎn)擊次數(shù)：2845次
薄膜厚度測(cè)試儀配備專業(yè)的儀器控制，光譜測(cè)量和薄膜測(cè)量功能的軟件，具有廣闊的應(yīng)用范圍。該薄膜厚度測(cè)試儀軟件能夠?qū)崟r(shí)采集吸收率，透過率，反射率和熒光光譜，并且能夠能夠快速計(jì)算出結(jié)果。
對(duì)于吸收率/透過率模式的配置，所有的典型參數(shù)如A,T可快速計(jì)算出來。其他的非標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，如signalintegration也能測(cè)量出來。
對(duì)于反射率測(cè)量，薄膜厚度測(cè)試儀軟件能夠測(cè)量膜層小于10層薄膜厚度（《10nm到100微米），光學(xué)常量（n&k）。
薄膜厚度測(cè)試儀應(yīng)用：
薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量薄膜吸收率,透過率
薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量化學(xué)薄膜和生物薄膜測(cè)量
薄膜厚度測(cè)試儀光電子薄膜結(jié)構(gòu)測(cè)量
薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)半導(dǎo)體制造
薄膜厚度測(cè)試儀聚合物測(cè)量
薄膜測(cè)量系統(tǒng)在線測(cè)量
薄膜測(cè)量系統(tǒng)光學(xué)鍍膜測(cè)量
這款薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)是超功能多樣的薄膜厚度測(cè)試儀,結(jié)合顯微鏡測(cè)量薄膜厚度,折射率和消光系數(shù)等
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